De financiering zal worden gebruikt om het eerste product op de markt te introduceren, een High-Throughput Scanning Probe Metrology (HT-SPM) systeem voor de metrologie van geavanceerde IC’s. Bovendien stelt de financiering Nearfield Instruments in staat zijn productiecapaciteit te vergroten en de ontwikkeling van het tweede metrologische product in zijn portefeuille te starten. Lees verder [Bron: linkmagazine]